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Inicio Noticias

El Capítulo de Ing. Electrónica del CIP CD Lima realizó Primer Foro Internacional sobre el Aporte de la Ingeniería en la Tecnovigilancia de Dispositivos Médicos

30 enero, 2026
en Noticias
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En las instalaciones del Colegio de Ingenieros del Perú – Consejo Departamental de Lima (CIP CD Lima), se llevó a cabo el Primer Foro Internacional: “Aporte de la Ingeniería en la Tecnovigilancia de Dispositivos Médicos”, primer evento presencial del año 2026, organizado por el Capítulo de Ingeniería Electrónica, a través de su Comité Especializado de Ingeniería Biomédica.

El evento reunió a profesionales, especialistas y representantes del sector salud y tecnológico, con el objetivo de analizar el rol estratégico de la ingeniería en la tecnovigilancia de dispositivos médicos, así como su impacto en la seguridad del paciente y la mejora continua de los sistemas de salud.

La moderación del foro estuvo a cargo del Ing. CIP Luis Sifuentes, mientras que las palabras de bienvenida fueron brindadas por el Ing. CIP Wilfredo Fanola, presidente del Capítulo de Ingeniería Electrónica, quien destacó la importancia de fortalecer la tecnovigilancia desde una perspectiva técnica, regulatoria y multidisciplinaria.

El programa académico se inició con la conferencia virtual del Ing. Juan Cuerda, titulada “Tecnovigilancia en Salud – Dräger”, donde se abordaron experiencias y buenas prácticas desde la industria de tecnología médica. Seguidamente, el Ing. CIP Fernando Pérez, presidente del Comité Especializado de Ingeniería Biomédica, presentó la ponencia “Aporte en tecnovigilancia del Comité Especializado de Ingeniería Biomédica del Capítulo de Ingeniería Electrónica”, resaltando las acciones y contribuciones del comité en este ámbito.

A continuación, el Ing. Dante Tito expuso el “Modelo de aporte de la Ingeniería Biomédica en tecnovigilancia: diseño de un dispositivo analizador de solución salina (usabilidad y tecnovigilancia)”, destacando la integración del diseño centrado en el usuario con la gestión de riesgos. Posteriormente, la Ing. Carolina Vera Váquiro presentó la conferencia “Más allá de la vigilancia posventa: cuando la seguridad no termina en la venta”, enfatizando la responsabilidad continua de los actores involucrados en el ciclo de vida de los dispositivos médicos.

El foro continuó con la participación del Ing. CIP Luis Vilcahuamán, quien desarrolló el tema “Análisis del modelo mundial de regulación para su aplicación en tecnovigilancia”, ofreciendo una visión comparada de los marcos regulatorios internacionales. Finalmente, el Ing. Sleyder Aguilar, representante de Fluke Biomedical, cerró el ciclo de exposiciones con la ponencia “Aporte de la metrología biomédica en la tecnovigilancia”, resaltando la importancia de la medición y calibración como pilares de la seguridad y confiabilidad de los dispositivos médicos.

Con este primer foro internacional del año, el Capítulo de Ingeniería Electrónica del CIP Lima reafirma su compromiso con la promoción del conocimiento, el fortalecimiento de capacidades técnicas y el impulso de la ingeniería biomédica como un actor clave en la tecnovigilancia y la seguridad del sistema de salud en el país.

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